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    Fracasos y errores en el cementado de estructuras e interfases de zirconia

    Author/s: DAI, Yixi
    Advisor/s: Tello Martínez, José Manuel
    Keyword/s: Odontología; Cementado; Zirconio; Corona unitaria; Pilar base de titanio
    Degree: Grado en Odontología
    Date of defense: 2025-06-01
    Type of content: TFG
    URI: https://hdl.handle.net/20.500.12880/13417
    Abstract:
    Introducción: Gracias a las excelentes propiedades del zirconio dental y al avance de la tecnología CAD/CAM, que ha simplificado significativamente los flujos de trabajo, es posible evaluar con mayor precisión y control la unión entre las coronas de zirconio y los pilares de titanio, apoyándonos en la base científica actualmente disponible; Objetivo: Analizar los fracasos y los errores en el cementado de las coronas unitarias de óxido de zirconio sobre pilares Ti-Base de implantes dentales ya sea realizado por el profesional o por el técnico de laboratorio; Metodología: Se realizó la búsqueda en dos bases de datos: PubMed y Scopus. La ecuación de búsqueda se construyó mediante palabras clave combinadas con operadores booleanos; Resultados: Tras aplicar los criterios de inclusión y exclusión, se identificaron un total de 283 artículos, de los cuales se seleccionaron 16 estudios que abordan la cementación de coronas de zirconio sobre pilares Ti-Base; Conclusiones: Los errores en el cementado de coronas de zirconio sobre pilares Ti-Base son multifactoriales y pueden comprometer la retención a largo plazo. Factores como la selección inadecuada del cemento, tratamientos de superficie incompatibles, el uso de pilares cortos o canales de acceso angulados, y errores técnicos durante el procedimiento, pueden afectar negativamente la estabilidad y longevidad de la restauración. La cementación extraoral proporciona mayor precisión y control biológico, mientras que la intraoral sigue siendo una opción válida si se aplican procedimientos clínicos estrictos.
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    Name: TFG_59_Yixi_Dai .pdf
    Size: 1.521Mb
    Format: PDF
    Type of content: TFG

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